Елементите за изпитване включват: критична температура (Tc), измерваща температурния диапазон на прехода от нормално състояние към свръхпроводящо състояние на материала, с точност до 0,01 K; критично магнитно поле (Hc), определящо минималната сила на магнитното поле, което разрушава свръхпроводящото състояние, с разделителна способност 0,001 T; критична плътност на тока (Jc), оценяваща максималната-носеща способност на тока, с обхват на грешка по-малък или равен на 5%; изпитване на съпротивление, измерване на стойности на съпротивление в диапазона 10⁻Ωm; измерване на магнитна чувствителност; изпитване за термичен анализ, определяне на температури на топене и кристализация; и микроструктурен анализ, като се наблюдава микроструктурата на материала.
По отношение на методите за изпитване, изпитването на съпротивлението използва метода на четири-сонда за постоянен ток; измерването на плътността на критичния ток използва метода на четирите-сонди; измерването на магнитната чувствителност съчетава специфични спецификации за изпитване на магнитни характеристики при ниска{2}}температура; термичният анализ използва диференциална сканираща калориметрия; и анализът на микроструктурата използва сканираща електронна микроскопия.
Стандартите за оборудване за изпитване изискват интегрираната система за измерване на физически свойства PPMS да измерва точно съпротивлението и магнитната чувствителност в температурния диапазон от 1,9K-400K; магнитометърът SQUID е оборудван със свръхпроводящ магнит 7T, способен да измерва хистерезисни вериги в магнитни полета от 0 до 7T; криостатната система осигурява непрекъснато променлива температурна среда от 4K до 300K; високо{11}}прецизното постояннотоково захранване извежда ток в диапазон от 1μA до 1A с разделителна способност от 10fA; рентгеновият дифрактометър е оборудван с детектор LynxEye с ъглова разделителна способност 0,0001; сканиращият електронен микроскоп е с разделителна способност 1nm и е оборудван със система за енергийна дисперсионна спектроскопия EDAX; тестовият етап с четири-сонди поддържа тестване при ниски температури от 77K до 300K; а магнитометърът с вибриращ образец има обхват на магнитното поле от 3T и чувствителност от 10⁻⁶emu.
